Measurement of X-ray diffraction angles of perfect monocrystals with high accuracy using a single crystal diffractometer

The aberrations and with that the systematic corrections for a single crystal diffractometer measurement according to the BOND method are derived from one general expression in a closed analytic way. Thus, all possible effects are included and calculated correctly. In comparison with the hitherto existing seperate derivation of aberrations it appears that the results of already known aberrations change in some cases and new aberrations appear. On this basis it is possible to measure lattice parameters as well as wavelengths with accuracies in the order of 10−7d and 10−7λ, respectively, on a BOND diffractometer. Es werden Aberrationen und damit die systematischen Korrekturen fur eine Einkristall-Diffraktometer-Messung nach der BOND-Methode von einem allgemeinen Ausdruck in einer geschlossenen analytischen Weise hergeleitet. Damit konnen alle moglichen Effekte erfast und korrekt berechnet werden. Ein Vergleich mit der bisherigen separaten Herleitung der einzelnen Aberrationen zeigt, das sich bei den schon bekannten Aberrationen in einigen Fallen die Ergebnisse andern und das neue Aberrationen erscheinen. Auf dieser Grundlage ist es moglich, mit einem BOND-Diffraktometer sowohl Gitterparameter als auch Wellenlangen mit Genauigkeiten in der Grosenordnung von 10−7d bzw. 10−7λ zu messen.