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高分解能GEXRF-RIXS-XAS技術に基づくシンクロトロン放射を用いたナノ層システムの電子構造を探る
高分解能GEXRF-RIXS-XAS技術に基づくシンクロトロン放射を用いたナノ層システムの電子構造を探る
2013
J. Hoszowska
Wei Cao
Wojciech Błachucki
Chen M W
Dousse J.-Cl.
Y. Kayser
A. Kis
D. Krasnozhon
J. Szlachetko
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