A method for determining the permeability of a dielectric layer of an optoelectronic component; A device for determining the permeability of a dielectric layer of an optoelectronic component; optoelectronic device and methods for fabricating an optoelectronic component

In verschiedenen Ausfuhrungsbeispielen wird ein Verfahren (300) zum Ermitteln der Permeabilitat einer dielektrischen Schicht (108) eines optoelektronischen Bauelementes, das Verfahren (300) aufweisend: Messen einer elektrischen Stromstarke durch eine dielektrische Schicht (108); und Ermitteln der Permeabilitat der dielektrischen Schicht (108) aus der gemessenen Stromstarke, wobei die gemessene elektrische Stromstarke eine Funktion der Permeabilitat der dielektrischen Schicht (108) bezuglich wenigstens Wasser und/oder Sauerstoff ist.