Mejora de la tolerancia a fallos en circuitos empotrados

En el espacio exterior es frecuente la presencia de particulas de alta energia que no llegan a la tierra debido a la proteccion que brinda la magnetosfera que lo envuelve, siendo tres las fuentes de radiacion: El viento solar, los rayos cosmicos y las particulas atrapadas en el cinturon de Van Allen. El desarrollo tecnologico que envuelve a la fabricacion de los circuitos integrados permite que los mismos sean cada vez mas densos, es decir mayor concentracion de transistores en menor espacio, que los mismos tengan una menor tension de funcionamiento y mayor frecuencia de operacion por lo que el impacto de estas particulas puede producir fallas en su funcionamiento debido a la interaccion entre las mismas y los circuitos integrados. Por otro lado es cada vez mas creciente la tendencia a utilizar dispositivos reconfigurables en disenos de sistemas digitales de alta complejidad, por sus caracteristicas unicas de poder ser reconfigurados en tiempo real, es decir, modificar una parte del diseno del circuito sin necesidad de detener el funcionamiento del mismo. Los sistemas electronicos que funcionan en el espacio como los satelites, misiles guiados, etc. son susceptibles de sufrir el impacto de las particulas cargadas por lo que pueden sufrir danos parciales o permanentes. Estos eventos se denominan SEE (Single Event Effects ). Los circuitos digitales deben tener un mecanismo que les permita recuperarse cuando se presente uno de estos eventos. Uno de ellos es utilizar la tecnica TMR (Triple Modular Redundancy). Esta tecnica consiste en la triplicacion de los modulos criticos del sistema, de manera que las salidas de las tres replicas se someten al escrutinio de un votador, que detecta cualquier discrepancia en el resultado proporcionado por cualquiera de ellas. Si uno de los circuitos es impactado por una particula cargada se puede reemplazarlo por medio de reconfiguracion parcial dinamica por lo que la combinacion de tecnicas TMR (Triple Modular Redundancy) y reconfiguracion parcial dinamica de la FPGA dotara de robustez al sistema electronico ante la aparicion de fallos en un sistema electronico.