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10nm FinFETにおける対二重パターン形成問題への新しいアーキテクチャをStrappingサブ0.5V信頼性を意識した負ビットライン書込み支援8T DP SRAMおよびWL【Powered by NICT】
10nm FinFETにおける対二重パターン形成問題への新しいアーキテクチャをStrappingサブ0.5V信頼性を意識した負ビットライン書込み支援8T DP SRAMおよびWL【Powered by NICT】
2017
Kumar Vinay
Puri Nikhil
Kumar Sudhir
Srivastav Sumit
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