Electrostatic forces between a metallic tip and semiconductor surfaces

La Microscopie a Force Atomique en mode resonnant est un outil bien adapte a la mesure des caracteristiques locales des surfaces: par exemple, l'analyse quantitative des forces electriques creees par l'application d'une difference de potentiel entre la pointe conductrice du microscope et une surface en regard, permet de determiner la capacite pointe/surface et le travail de sortie local de la surface. Toutefois cette analyse reclame un modele adapte a chaque systeme. Cet article a pour but de calculer, dans un modele geometrique simple, l'interaction pointe/surface dans le cas d'une pointe metallique et d'une surface semiconductrice et de decrire ses variations en fonction du potentiel applique et de la distance pointe-surface