Procédé d'étalonnage d'un dispositif de capture d'image

La presente invention concerne un procede d'etalonnage d'un dispositif de capture d'image qui comprend au moins un dispositif d'echantillonnage a partir d'un lot pour un mouvement a travers une pluralite d'orientations relatives a un plan horizontal. Pour une orientation donnee, le dispositif d'echantillonnage est mis au point a une sequence de positions, chaque position etant a une distance de mise au point respective du dispositif. Un reglage d'un actionneur de lentille est enregistre pour le dispositif d'echantillonnage a chaque position. Cette operation est repetee a une pluralite d'orientations distinctes du dispositif d'echantillonnage. Des relations respectives sont determinees entre des reglages de l'actionneur de lentille a toute position donnee pour des orientations distinctes parmi la pluralite d'orientations distinctes et des reglages de l'actionneur de lentille a une orientation selectionnee de la pluralite d'orientations distinctes. Les reglages de l'actionneur de lentille pour le dispositif de capture d'image a etalonner sont enregistres au moins en deux points d'interet (POI), chacun a une distance de mise au point specifiee du dispositif avec le dispositif de capture d'image positionne a l'orientation selectionnee. Le dispositif de capture d'image est etalonne pour la pluralite d'orientations distinctes sur la base des relations determinees et des reglages enregistres de l'actionneur de lentille.