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65nmフリップフロップの応答のアップセット(SEU)シングルイベントに及ぼす電圧ストレスの影響【Powered by NICT】
65nmフリップフロップの応答のアップセット(SEU)シングルイベントに及ぼす電圧ストレスの影響【Powered by NICT】
2016
C. T. Chua
Hock Guan Ong
K. Sanchez
P. Perdu
Chee Lip Gan
Keywords:
Computer engineering
Engineering
Electronic engineering
Reliability engineering
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