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Mesures électriques locales par AFM en mode intermittent
Mesures électriques locales par AFM en mode intermittent
2014
Aymeric Vecchiola
Pascal Chrétien
Olivier Schneegans
Frédéric Houzé
Karim Bouzehouane
Stéphane Fusil
Richard Mattana
Pierre Seneor
Keywords:
Atomic force microscopy
Optoelectronics
Materials science
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