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12aWG-8 誘電率測定によるスピンアイス Dy_2Ti_2O_7 における低温磁場誘起相転移の起源特定(フラストレーション系, 領域 3)
12aWG-8 誘電率測定によるスピンアイス Dy_2Ti_2O_7 における低温磁場誘起相転移の起源特定(フラストレーション系, 領域 3)
2004
ryuuzi higasinaka
masasi saitou
kazuhiko deguti
J Ruff
M Gingras
etu teru maeno
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