1~3 nm颗粒物在粒径分布测量仪中的通过效率研究

基于二甘醇的扫描电迁移率粒径谱仪（DEG-SMPS）是常用的1~3 nm颗粒物粒径分布测量系统.目前对1~3 nm颗粒物在该系统中通过效率的量化不够准确，这给大气颗粒物粒径分布的测量带来了较大的不确定性.本文研究了1~3 nm颗粒物和离子在直管、弯管以及气溶胶中和器等系统组件中的通过效率，并使用等效管长法来量化颗粒物在这些组件单元中的通过效率.研究表明，1~3 nm颗粒物在直管内的通过效率不受颗粒物电性影响，且可以由Gormley-Kennedy（G-K）方程估算.当采样流量为2.5 L·min-1时，DEG-SMPS系统中总等效管长约为433 cm，其中气溶胶中和器的等效管长为160 cm，弯头的等效管长为33 cm.