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信頼性物理学に基づくVsdとRds()を超えた限界を有するVDMOSデバイスの故障解析【Powered by NICT】
信頼性物理学に基づくVsdとRds()を超えた限界を有するVDMOSデバイスの故障解析【Powered by NICT】
2016
Li Qing
Gao Bo
Deng Haitao
Wang LuLu
Yang Dandan
Wang Lixin
Luo Jiajun
Han Zhengsheng
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