Vergleichende EMV-Untersuchungen auf Geräte- und IC-Ebene

Der Einsatz integrierter Schaltungen stellt ein potentielles EMV-Problem in der Gerateentwicklung dar. Unzureichende EMV-Eigenschaften von integrierten Schaltungen (ICs) konnen dazu fuhren, dass Gerate, in welche diese ICs eingebaut werden, die fur die CE-Kennzeichnung geforderten EMV-Gerateanforderungen nicht erfullen. Daher stellen Gerateentwickler an IC-Hersteller immer haufiger die Forderung nach ICs mit entsprechend "gutem" EMV-Verhalten. Die Messung und Bewertung der Storemission und Storfestigkeit auf IC- und auf Gerate-Ebene erfolgt jedoch nach unterschiedlichen Methoden. Die Frage, inwieweit aus Kenntnissen des EMV-Verhaltens von ICs auf das EMV-Verhalten eines fertigen Gerates geschlossen werden kann, ist nicht einfach zu beantworten. Dieser Beitrag soll ein Mosaiksteinchen in Richtung der Beseitigung dieses Missing Links sein.