Identificación de patrones de difracción de micas

La practica usual de identificar micas mediante el valor de la  difrac cion d060 del patron de difraccion, tiene ciertos inconvenientes y puede  llevar a una identificacion erronea. Pueden sacarse mejores conclusiones de terminando los indices del patron de difraccion completo, especialmente si  solo cansideramos al refinar los calculos, aquellos planos en la estructura  de la mica con alta densidad electronica. Una solucion intermedia es determinar  la rnagnitud de d001 a partir de los planos 001 de alta densidad, la  de d010  a partir de los Ok0 y Ok1, la de d100 a partir de los hOO y hkO,  y el angulo de las difracciones hO1 y hOl. los valores asi obtenidos pueden  refinarse parcialmente usando el metodo de extrapolacion de Taylor - Sinclair - Nelson - Riley.  A B S T R A C T The comon practice of identifying micas by  the value of the d060  difraction can lead to erroneous conclusions. There are usually several  difractions around 0,15 n (1.5 A) and d060 is not necessarely the strong  gest. The indexing of all diffractions and the least squares refinement of  the lattice constants can yield more reliable results.  However, when all geometrically possible hk1 planes are considered equally  plausible, significant problems my be encountered because of the distinct  geometric relationship between the magnitudes of the mica unit translations.  That can be avoided by using only those dhk1´ s in the initial refinement  cycles, which are known to have electron density in practically all mica es tructures.  A simple method is offered for the determination of the values of  d 001  d 100  and cos S fom high-intensity 001, OkO and Ok1, h00) and hkO and  from hO1 and hOl diffractions, respectively, and from their linear refinement  by the Taylor - Sinclair - Nelson - Riley extrapolation method. This method  can executed both graphically and analytically. (A program designed for the  II 59 calculator can be obtained from the authors).