Appareil et procédé d'analyse de surface

L'invention concerne un appareil pour analyser une surface qui, lors de l'utilisation, est soumise a une trainee, l'appareil comprenant une source de lumiere pour generer de la lumiere d'au moins une longueur d'onde predeterminee, un support de source de lumiere pour maintenir et positionner la source de lumiere de facon a la diriger au niveau de la surface, un detecteur de lumiere pour detecter la lumiere reflechie provenant de la surface et generer un signal en reponse a cette derniere, un support de detecteur de lumiere pour maintenir le detecteur de lumiere et le positionner de facon a detecter la lumiere reflechie, et un raccord pour relier le detecteur de lumiere a un microprocesseur pour analyser le signal. L'invention concerne egalement un procede d'analyse d'une surface qui, en utilisation, est soumise a une trainee.