Old Web
English
Sign In
Acemap
>
Paper
>
高出力LED応用のための熱信頼性試験中の窒化アルミニウムによる基質の破壊と応力解析【Powered by NICT】
高出力LED応用のための熱信頼性試験中の窒化アルミニウムによる基質の破壊と応力解析【Powered by NICT】
2016
M. Y. Tsai
Chih-Ting Lin
K.F. Chuang
Yuan-Hsiao Chang
C. T. Wu
S.C. Hu
Keywords:
Computer engineering
Engineering
Electronic engineering
Correction
Cite
Save
Machine Reading By IdeaReader
0
References
0
Citations
NaN
KQI
[]