システム・イン・パッケージ型半導体装置

【課題】外部から直接メモリチップの単独テストが行えるようにする。 【解決手段】ロジックチップ１１に設けたテスト回路１６は、外部接続端子から入力されるテスト信号１８に含まれるモード信号が通常動作モードを示すときは、ロジック回路１５がメモリ回路１４へのアクセス経路（配線１７）を使用可能とする一方、モード信号がテストモードを示すときは、アクセス経路１７を使用してメモリ回路１４をアクセスし、外部接続端子から入力されるテスト信号１８の内容に従ってテストや寿命加速試験、マルチビットテストを実施する。また自己診断を実施する。 【選択図】 図２