LA-(MC)-ICPMS和(Nano)SIMS硫化物微量元素和硫同位素原位分析与矿床形成的精细过程

硫化物微区原位分析技术包括LA-ICPMS定点微量元素分析、LA-ICPMS和（Nano）SIMS微量元素面扫描分析，以及SIMS、NanoSIMS和LA-MC-ICPMS原位硫同位素点分析和面扫描。这些分析方法可以有效地获取不同期次硫化物微量元素含量、丰度分布图像、硫同位素比值和分布特征，结合微区时间分辨信号谱图、微量元素相关性分析等，在矿床学的成矿元素行为与赋存状态、成矿元素置换反应、成矿流体与硫的来源、矿石矿物的化学分带性、矿床成因模型等研究中有着重要的应用前景，以探讨矿床的精细成矿过程。硫化物原位微量元素和同位素LA-（MC）-ICPMS和（Nano）SIMS分析，需要降低仪器和分析方法的系统误差，克服严重的基体效应和同位素分馏效应。