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D. Schneider
D. Schneider
Johannes Kepler University of Linz
tem cell
Optoelectronics
Power (physics)
Materials science
characterization
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Darstellung der TEM-Zellen und der Surface Scan Messmethode zur Untersuchung des Einflusses von On-Chip Decoupling Kapazitäten auf die Störemission von Integrierten Schaltungen
2003
Timm Ostermann
Bernd Deutschmann
D. Schneider
R. Jungreithmair
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Characterization of the influence of different power supply styles on the electromagnetic emission of ICs by using the TEM-Cell method (IEC 61967-2)
2002
Timm Ostermann
D. Schneider
C. Bacher
Bernd Deutschmann
R. Jungreithmair
Wolfgang Gut
C. Lackner
R. Koessl
R. Hagelauer
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