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RFストレス試験とDCストレス試験中のAlGaN/GaN HEMTにおけるトラップの生成
RFストレス試験とDCストレス試験中のAlGaN/GaN HEMTにおけるトラップの生成
2012
M. Caesar
Michael Dammann
Vladimir Polyakov
Patrick Waltereit
Wolfgang Bronner
M. Baeumler
Rudiger Quay
Michael Mikulla
Oliver Ambacher
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