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Poster: Advances in Technology and Characterization
Poster: Advances in Technology and Characterization
2013
S. Stille
Ch. Lenser
R. Dittmann
A. Köhl
I. Krug
R. Muenstermann
J. Perlich
C. M. Schneider
U. Klemradt
R. Waser
L. Plucinski
J Minar
J. Braun
A. X. Gray
S. Ueda
Y. Yamashita
K. Kobayashi
H. Ebert
C.S Fadley
M. Sing
A. Müller
H. Boschker
F. Pfaff
G. Berner
S. Thiess
W. Drube
G. Koster
G. Rijnders
D.H.A Blank
R. Claessen
Haifeng Li
A. X. Gray
Jan Minář
L. Plucinski
Mark Huijben
Alexander M. Kaiser
Slavomír Nemšák
G. Conti
Aaron Bostwick
Eli Rotenberg
See‐Hun Yang
Jürgen Braun
Guus Rijnders
Dave H. A. Blank
Susanne Stemmer
Claus M. Schneider
Juergen Braun
Hubert Ebert
Charles S. Fadley
Carsten Woltmann
Hans Boschker
Rainer Jany
Christoph Richter
J. Mannhart
T. Heeg
W Stein
Dieter Weber
Róza Võfély
Yuehua Chen
Ulrich Poppe
Irina Kärkkänen
Mikko Heikkilä
Jaakko Niinistö
Mikko Ritala
Markku Leskelä
Susanne Hoffmann‐Eifert
Rainer Waser
N. Aslam
M. Reiners
T. Blanquart
H. Mähne
J. Niinistö
M. Leskelä
T. Mikolajick
S. Hoffmann‐Eifert
Yoshihiko Togawa
Jun-ichiro Kishine
Alexander Ovchinnikov
Igor Proskurin
M.H. Lee
C. H. Chen
M.‐W. Chu
H. D. Yang
Kilian Flöhr
H. Yusuf Günel
Kamil Sladek
Robert Frielinghaus
H. Hardtdegen
Marcus Liebmann
Thomas Schäpers
Markus Morgenstern
Tobias Salge
Igor Nemeth
Meiken Falke
Tadachika Nakayama
Roman Nowak
Koichi Niihara
Aleksey Maryasov
Stefan Herbert
Larissa Juschkin
Anke Aretz
Rainer Lebert
Sergey Seriy
Sabine Pütter
Alexandra Steffen
Markus Waschk
Alexander Weber
Stefan Mattauch
Thomas Brückel
H. Kim
S. Danylyuk
L. Juschkin
K. Bergmann
P. Loosen
Milias Crumbach
Manfred Martin
Keywords:
Nanotechnology
Materials science
Electron diffraction
Reflection high-energy electron diffraction
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References
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Citations
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