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バイアス空間におけるCMOS FET劣化のマッピング: DRAM周辺デバイスへの応用
バイアス空間におけるCMOS FET劣化のマッピング: DRAM周辺デバイスへの応用
2017
B. Kaczer
Jacopo Franco
Stanislav Tyaginov
M. Jech
G. Rzepa
Tibor Grasser
B. O’Sullivan
R. Ritzenhaler
Tom Schram
Alessio Spessot
Dimitri Linten
Naoto Horiguchi
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